微波凝固型塑料制作的全口义齿精度变化

时间:2010-03-12 08:43:49  作者:  来源:  查看:  94 关键字:

　　关键词： 微波凝固型塑料；三维数字测定；全口义齿

　　摘要　目的：了解微波凝固型塑料制作的全口义齿精度变化。方法：应用三维座标测定仪对微波凝固型塑料及热凝塑料制作的全口义齿进行精度测量并比较。结果：塑料凝固后即时变化显示微波凝固型塑料比热凝塑料收缩率大，至3或4周呈现时间性变化。结论：微波凝固型塑料在凝固后3或4周存在时间性变化。

　　全口义齿的固位主要依赖于基托组织面与粘膜组织间的紧密接触。而制作全口义齿基托的主要材料—塑料又均存在不同程度的收缩，对全口义基托组织面精度产生不同程度的影响。微波凝固型塑料与传统的热凝塑料相比具有节省时间，操作简便等优点。本研究利用三维数字座标仪联同微机系统对利用微波凝固型塑料及热凝塑料制作的上颌全口义齿进行精度测量并比较分析。

　　材料与方法

　　一、材料

　　微波凝固型塑料采用日本GC公司生产的ACRON MC型。加热凝固型塑料采用日本GC公司生产的ACRON型塑料。

　　二、方法

　　1. 工作模型的制作：采用日本日信公司生产的G1 40 2U型无牙上颌模型做为原型，利用工业用硅橡胶(日本信越化学工业公司生产)及人造石(日本GC公司生产的SU RS TO NE)进行复制。

1　上颌全口义齿组织面各测定点的位置

　　P1：切牙乳头相当部位

　　P2：全口义齿基托后缘中点部位

　　P3、P4：左右第二双尖牙牙槽嵴顶相当部位

　　P5、P6：左右第二双尖牙相当部颊侧基托边缘

　　P7、P8：左右第二磨牙牙槽嵴顶相当部位

　　P9、P10：左右第二磨牙相当部颊侧基托边缘

　　利用高桥式测量方法，在各测定点将直径2mm的金属球的下半分埋没于模型内，从而得到工作模型。

　　2. 上颌全口义齿的制作：利用日本松风公司生产的塑料牙，按照上颌全口义齿的排列原则在工作模型上制作出上颌蜡义齿。除微波凝固型塑料(以下简称MC)需采用微波处理专用型盒外，埋盒、冲蜡等与热凝塑料(以下简称AC)相同。

　　MC加压填入型盒后，利用功率500W的微波照射3min，室温放置30min，冷水中浸泡30min后开盒，取出义齿。

　　AC加压填入型盒后，先在70℃热水中加热90min，然后在100℃沸腾水中加热30min，室温放置6min后开盒取出义齿。

　　每种材料各制作5副义齿。

　　3. 测量　利用三维数字座标测定仪(日本东京精密公司生产XY Z AX M-400型)联同计算机(PC 9801UX，NEC)采用高桥式测量方法，对工作模型的各测定点及反转至义齿基托组织面的各测定点在开盒后即时、1天、3天、1周、2周、3周、4周共进行八个阶段的测量。从而得到制作义齿基托的塑料在凝固后即时精度变化及时间性变化。为了防止误差，每个阶段的测量均进行三次取平均值。相对工作模型数据，计算出各种材料凝固后的精度变化。

　　测量期间，全口义齿放在37℃温水中浸泡保存。　　结　果

　　见表1-3及图2。

　　括号内为标准差s

　1. 即时精度变化：二种塑料制作的全口义齿均显示出不同程度的收缩。平均收缩率(见表1)AC为0.43～0.52%、MC为0.49～0.61%。MC较AC收缩率略大。

　　2. 时间性变化：MC凝固3天后开始出现收缩的恢复倾向至3周、4周时这种时间性变化趋于稳定，此时MC的收缩率小于AC。

　　AC经过4周八个阶段的测量未发现有上述变化。

　　讨　论

　　一、即时精度变化

　　MC、AC在凝固后均出现了收缩，关于塑料收缩的原因，通常认为有热收缩、凝固性收缩以及由型盒内取出时的应力释放。本实验中MC较AC收缩率略大的原因，我们认为主要是由于塑料的聚合度低，由型盒内取出时应力释放大引起。

　　各测定点的测量结果还表明，无论是MC还是AC制作的上颌全口义齿基托均呈现向心性收缩，即义齿的颊部边缘间收缩率较大。

　　二、时间性变化

　　实验结果表明，由塑料凝固后3日开始，MC各测定点的收缩率均出现恢复现象，至义齿完成后3至4周，逐渐恢复变化趋于稳定。而AC收缩后无恢复倾向。其原因可以认为，MC较AC聚合度低，聚合时残留的单体较多。义齿完成后，随着时间的推移，单体逐渐溶出，释放导致塑料吸水量增多，从而呈现出收缩恢复现象。而AC由于聚合较充分，残留的单体少，因此无凝固后的时间性变化。

　　三、临床意义

　　全口义齿完成后，患者由初戴到适应尚需一定的时间，对义齿组织面还需要进行调改。本组实验结果表明，利用MC制作的全口义齿精度存在时间性变化，至义齿完成后3或4周才趋于稳定。因此在临床工作中，我们要根据其特点，对义齿组织面与粘膜适应性的调改，尤其是颊侧边缘的修改尽量延后，早期大面积缓冲易造成以后义齿固位不良等问题出现。

　　参考文献

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